用于低频/高频的智能卡、RFID标签及电感元件的射频性能检测

T8200PRO-G是一款来自日本Testram公司的顶级RFID综合测试仪。对RFID、智能卡、无线供电、功率电感器的研发及制造、科研机构、实验室或检测机构，以及自动化生产线上使用都是不二之选。

功能特点:

※ 精准测量各种尺寸规格的低频和高频器件的性能参数，包括：

谐振频率、衰减量、Q值、支持读取UID码以及部分芯片类型的识别

※ 能测试传输或反射特性（包括方向耦合），可调射频输入功率，模拟读卡器

※ 测试结果和波形能自动写入日志文件

※ 预设测试范围，判定样品是否合格

※ 单品测试以及联机自动化方案

应用范围：

※智能卡、RFID标签的谐振频率检测：

判断测量结果是否通过；自动生成检查日志文件；可调射频功率-30dBm~15dBm

芯片绑定前可对射频天线检测，如双界面卡的线圈inlay

※RFID读写天线的谐振频率检测

※无线供电线圈及功率电感器件的自谐振频率检测

测试原理

检测显示屏

产品规格